
Ref: P7.1.2.3
P7.1.2.3 Diagramme de Debye-Scherrer: détermination de l'écartement des plans réticulaires
d'échantillons poudreux polycristallins
Parmi les nombreux cristallites désordonnés, il y a toujours des rayonnements X qui présentent une orientation conforme à la condition de Bragg.
Les rayons diffractés décrivent les génératrices dun cône dont langle douverture peut être obtenu à partir dun enregistrement photographique.
On détermine lécartement réticulaire correspondant à langle , les indices de Laue h, k, l du cristal ainsi que la structure réticulaire des cristallites.
Équipement comprenant :
1 554 800 Appareil de base à rayons X
1 554 861 Tube à rayons X, Mo
1 554 838 Porte-film X-ray
1 554 895 Film pour rayons X
1 667 091 Pilon 88 mm
1 667 092 Mortier 30 ml, 56 mm x 36 mm
1 666 960 Microcuillère à poudre, 150 mm
1 311 54 Pied à coulisse de précision
1 673 5700 Chlorure de sodium, 250 g
1 673 0520 Fluorure de lithium, p.a., 10 g [DANGER H301 H335 H315 H319]
Film pour rayons X alternatif : (pas compris dans le montant total de l'offre)
1 554 8961 KODAK, Film dentaire DF50 5,7x7,6cm
1 554 8972 Révélateur et fixateur pour film pour rayons X, 1 l [DANGER H318 H317 H341 H351 H400]
1 554 8931 Sac et boîte de développement
Ref: 31154
Pied à coulisse de précision, mesures d'intérieur (alésage), d'extérieur (diamètre) ou profondeur
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Ref: 554800
Appareil de base à rayons X
Appareil de base livré sans tube et sans goniomètre.(554831)
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Ref: 554838
Porte-film X-ray
livré avec rail d'expérimentation à échelle graduée en millimètres et diaphragme à trou D = 1 mm
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Ref: 5548931
Sac et boîte de développement (Alternative au 554895)
A utiliser avec 5548971 et 554896
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